ПОЗАГАЛАКТИЧНА АСТРОНОМІЯ - ЮРІЙ КУДРЯ 2016

РОЗДІЛ 3

ПОВЕРХНЕВА ФОТОМЕТРІЯ ГАЛАКТИК

3.5.Подання результатів поверхневої фотометрії

3.5.1. Одновимірні профілі поверхневої яскравості

У разі кількісного аналізу структур галактик за двовимірними фотометричними даними часто одержують одновимірні профілі поверхневої яскравості μ(r). Існує багато способів такої редукції, проте єдиного профілю для подання найкращим чином властивостей галактик різних типів немає. Профілі вибирають відповідно до задачі та морфологічних особливостей. Наведемо найпоширеніші з них.

• Фотометричний розріз — це переріз галактики вздовж певного напрямку. Як правило, перерізи розглядають уздовж великої або малої осі галактики, але це можуть бути і перерізи через найбільш цікаві структурні особливості (наприклад, вздовж бара, через області іонізованого водню HII). У разі центральної симетрії ізофот перерізи іноді усереднюють відносно центру галактики. Вздовж вибраних розрізів разом з розподілом яскравості в одній або декількох смугах наводять і розподіли показників кольору. На рис. 3.2 наведено фотометричний розріз для спіралі М 31 та еліптичної галактики NGC 3379. Локальний максимум поблизу r ≈ -40' для М 31 пов’язаний з її супутником — галактикою NGC 205.

Рис. 3.2. Фотометричний розріз спіральної М 31 (а) та еліптичної NGC 3379 (б) галактик:

1 — розріз уздовж великої осі; 2 — розріз уздовж малої осі

Напрямки великої та малої осей галактики знаходять за її зовнішніми ізофотами. Ці напрямки, однак, не завжди можна визначити точно. Для деяких галактик, наприклад, спостерігається систематична їх зміна від однієї ізофоти до іншої; у деяких спіральних галактиках пилова смуга може заважати визначенню ізофоти.

• Еліптично усереднений розріз. Цей розріз μ(α) отримано усередненням I(r, φ) за азимутальним кутом φ уздовж еліптичної ізофоти з великою віссю а та малою b (за видимим стисненням b/a). Усереднення згладжує відхилення від еліптичної форми галактик. Цей розріз, наприклад, використовується для контрастного виділення спіральної структури.

• Усереднений у кільцях профіль. У цьому випадку усереднюють I(r, φ) у межах концентричних кілець сталої або змінної ширини кільця.

• Еквівалентний профіль був введений де Вокулером (1948). Якщо S — площа, обмежена ізофотою довільної форми, то еквівалентний радіус r* визначається як радіус кола, що має таку саме площу — r* = S/π . Залежність поверхневої яскравості на

даній ізофоті від еквівалентного радіуса називають еквівалентним профілем μ(r*). Для системи еліптичних ізофот зі сталою еліптичністю μ(r*) фактично збігається з еліптично усередненим розрізом μ(a) у разі врахування пропорційності аргументів r* = =Еквівалентний профіль зручний тим, що він дає змогу побудувати одновимірний розподіл навіть у випадку неправильних за формою ізофот.

• Спроектований профіль визначають як проекцію двовимірного розподілу на велику вісь галактики:(осі координат х та у орієнтовані вздовж великої та малої осей галактик з початком у її центрі).






Відвідайте наш новий сайт - Матеріали для Нової української школи 1 клас - планування, розробки уроків, дидактичні та методичні матеріали, підручники та зошити

Віртуальна читальня освітніх матеріалів для студентів, вчителів, учнів та батьків.

Наш сайт не претендує на авторство розміщених матеріалів. Ми тільки конвертуємо у зручний формат матеріали з мережі Інтернет які знаходяться у відкритому доступі та надіслані нашими відвідувачами. Якщо ви являєтесь володарем авторського права на будь-який розміщений у нас матеріал і маєте намір видалити його зверніться для узгодження до адміністратора сайту.

Дозволяється копіювати матеріали з обов'язковим гіпертекстовим посилання на сайт, будьте вдячними ми затратили багато зусиль щоб привести інформацію у зручний вигляд.

© 2008-2019 Всі права на дизайн сайту належать С.Є.А.